Hanyecz István
Lézerrel kezelt szilícium felületek, valamint impulzuslézeres rétegépítéssel előállított amorf szilícium és SixC vékonyrétegek ellipszometriai vizsgálata.
Doktori értekezés, Szegedi Tudományegyetem (2000-).
(2015)
(Kéziratban)
Előnézet |
PDF
(disszertáció)
Download (24MB) | Előnézet |
Előnézet |
PDF
(tézisfüzet)
Download (165kB) | Előnézet |
Előnézet |
PDF
(tézisfüzet)
Download (161kB) | Előnézet |
Mű típusa: | Disszertáció (Doktori értekezés) |
---|---|
Publikációban használt név: | Hanyecz István |
Idegen nyelvű cím: | Ellipsometric investigation of laser textured silicon surfaces and pulsed laser deposited amorphous silicon and SixC thin films |
Témavezető(k): | Témavezető neve Beosztás, tudományos fokozat, intézmény MTMT szerző azonosító Tóth Zsolt PhD, tudományos főmunkatárs, SZTE TTIK Optikai és Kvantumelektronikai Tanszék 10010061 |
Szakterület: | 01. Természettudományok > 01.03. Fizikai tudományok |
Doktori iskola: | Fizika Doktori Iskola |
Tudományterület / tudományág: | Természettudományok > Fizika |
Nyelv: | magyar |
Védés dátuma: | 2015. május 07. |
EPrint azonosító (ID): | 2267 |
A mű MTMT azonosítója: | 2994696 |
doi: | https://doi.org/10.14232/phd.2267 |
A feltöltés ideje: | 2014. jún. 23. 15:21 |
Utolsó módosítás: | 2020. ápr. 07. 11:30 |
Raktári szám: | B 5877 |
URI: | https://doktori.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/2267 |
Védés állapota: | védett |
Actions (login required)
![]() |
Tétel nézet |