Impulzuslézerekkel módosított szén és szilícium felületek vizsgálata Raman-spektroszkópiával és ellipszometriai módszerekkel

Csontos János
Impulzuslézerekkel módosított szén és szilícium felületek vizsgálata Raman-spektroszkópiával és ellipszometriai módszerekkel.
[Thesis] (Unpublished)

[thumbnail of CsontosJ_PhD ertekezes.pdf]
Preview
PDF (thesis)
Download (5MB) | Preview
[thumbnail of CsontosJ_tezisfuzet_magyar.pdf]
Preview
PDF (booklet)
Download (363kB) | Preview
[thumbnail of CsontosJ_tezisfuzet_angol.pdf]
Preview
PDF (booklet)
Download (270kB) | Preview
Item Type: Thesis (Doctoral thesis (PhD))
Creators: Csontos János
Title of the thesis in foreign language: Raman spectroscopic and spectroscopic ellipsometric measurements on pulsed laser treated glassy carbon and silicon surfaces
Supervisor(s):
Supervisor
Position, academic title, institution
MTMT author ID
Tóth Zsolt
tudományos főmunkatárs
10010061
Budai Judit
tudományos munkatárs, SZTE TTIK Optikai és Kvantumelektronikai Tanszék
10045669
Subjects: 01. Natural sciences > 01.03. Physical sciences
Divisions: Doctoral School of Physics
Discipline: Natural Sciences > Physics
Language: Hungarian
Date: 2019. May 20.
Item ID: 10054
MTMT identifier of the thesis: 30809332
doi: https://doi.org/10.14232/phd.10054
Date Deposited: 2019. Jan. 12. 10:40
Last Modified: 2020. Jul. 06. 11:48
Depository no.: B 6520
URI: https://doktori.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/10054
Defence/Citable status: Defended.

Actions (login required)

View Item View Item